使用实验室天平正确称量
称量是实验室最常见的工作之一。先进的微量天平、半微量天平、分析天平与精密天平现已得到了极大的优化，以致于通常无需设置专用称量室。
|
电子技术的进步极大地简化了天平操作过程，大幅度缩短了称量时间，并且使天平具有很高的灵活性，以致于可将其直接集成于生产过程当中。 然而，这种进步所固有的风险是无法采取充分的防范措施防范来自于周边区域的干扰影响。这些通常包括物理影响的干扰将影响微量天平、半微量天平与分析天平的称量工作，由于会导致可测质量的改变(例如：由于慢速蒸发、吸湿等)，或对秤盘与称量样品的作用力(磁力，静电等)以及当质量改变时由天平阐释的作用力，因此分析天平无法抑制这些干扰 上述说明旨在解释当需要获得高质量结果时，使用微量天平、半微量天平与分析天平进行作业时需要注意的最重要事项。 在对有关天平位置与正确操作事项进行简短介绍之后，现在将详细介绍对称量产生的干扰影响。这些影响中的大多数可通过显示屏上显示值的缓慢变化(漂移)识别。 由于关于技术数据的阐释正确与否还对评估称量结果产生重要的影响，因此，在本文最后将对最常用的技术术语进行解释。 |
|
改进您的称量过程控制和节约成本
